Телефон
(067) 559-91-58
Контакты Тарифы и доставка Оплата Вопросы и ответы
UAH/USD: 39.90
₴ $
RU UA
Каталоги Магазины Просто доставка
eBay US eBay DE eBay UK eBay PL
eBay US
Каталог
Все категории
Состояние:
Бывший в употреблении
41
На запчасти или не рабочий
18
Новый
2
Восстановленный продавцом
1
Цена
Применить
Бренд
A/M/G 4
ACCU-SCOPE 84
AOMEKIE 17
Academy 2
Across International 1
Показать ещё
Скрыть
Viewer
Монитор/Дисплей 2448
Монокуляр 5529
USB/Camera Output 5807
Trinocular 6833
Binocular 8549
Microscope Type
Scanning Acoustic Microscope 3
Transmission Electron Microscope (TEM) 4
Scanning Probe Microscope (SPM) 7
Atomic Force Microscope (AFM) 52
Scanning Electron Microscope (SEM) 73
Показать ещё
Скрыть
Microscope Structure
Inverted 1574
В вертикальном положении 13196
Intended Use/Discipline
Thoracic Surgery 18
Radiology 19
Rheumatology 29
Психиатрия 37
Gastroenterology 70
Показать ещё
Скрыть
Популярные категории
Нагрев и охлаждение
Оборудование для очистки
Лабораторные рекодеры и плоттеры
Другое лабораторное оборудование

Лабораторные микроскопы - Scanning Electron Microscope (SEM) из Америки

62 результата
Отображать
24
scanning-electron-microscope-sem
выбрано 62
Сбросить фильтр
Сортировка
Тип лота
Фильтр
1
Сортировать
Лучшее предложение
Отображать
24
Вид
Фиксированная цена
Аукцион
Все товары
Hitachi S-3500N Scanning Electron Microscope power distribution module 50E-5111 Hitachi S-3500N Scanning Electron Microscope power distribution module 50E-5111 Бывший в употреблении82 243.10 ₴Купить сразуТовар находится: Singapore 6703.2 ₴ доставка на склад (Украина) 82 243.10 ₴6703.2 ₴ доставка на склад (Украина) Carl Zeiss Scanning Electron Microscope SEM Planfilmkamra Control Unit Part Carl Zeiss Scanning Electron Microscope SEM Planfilmkamra Control Unit PartБывший в употреблении47 915.44 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 47 915.44 ₴ доставка на склад (США) Stereoscan 240 Scanning Electron Microscope S240 Cambridge Instruments OPTIBEAM Stereoscan 240 Scanning Electron Microscope S240 Cambridge Instruments OPTIBEAMБывший в употреблении239 352.12 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 239 352.12 ₴ доставка на склад (США) JEOL JSM-6300F Scanning Microscope Specimen Rod & Assembly Pieces JEOL JSM-6300F Scanning Microscope Specimen Rod & Assembly PiecesБывший в употреблении19 279.12 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 19 279.12 ₴ доставка на склад (США) Excellent! Hitachi Specimen STAGE for Scanning Electron Microscope SEM S-500 Excellent! Hitachi Specimen STAGE for Scanning Electron Microscope SEM S-500Бывший в употреблении53 864.52 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 53 864.52 ₴ доставка на склад (США) Jeol JSM 7000F SEM Field Emission Scanning Electron Microscope Nice Jeol JSM 7000F SEM Field Emission Scanning Electron Microscope NiceБывший в употреблении818 748.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 818 748.00 ₴ доставка на склад (США) AMRAY 1920T-Eco Scanning Electron Microscope AMRAY 1920T-Eco Scanning Electron MicroscopeНа запчасти или не рабочий181 944.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 181 944.00 ₴ доставка на склад (США) JEOL JCM-5000 Neoscope Desktop Scanning Electron Microscope POWER TESTED! JEOL JCM-5000 Neoscope Desktop Scanning Electron Microscope POWER TESTED!На запчасти или не рабочий1 053 360.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 1 053 360.00 ₴ доставка на склад (США) JEOL JSM-5900LV Scanning Electron Microscope w/Oxford X-ray Detector & Accessori JEOL JSM-5900LV Scanning Electron Microscope w/Oxford X-ray Detector & AccessoriБывший в употреблении955 206.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 955 206.00 ₴ доставка на склад (США) Jeol 2 Scanning Microscopes, used, parts lot only Jeol 2 Scanning Microscopes, used, parts lot onlyНа запчасти или не рабочий478 800.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 478 800.00 ₴ доставка на склад (США) PARTS FEI XL 30 SEM Scanning Electron Microscope EDAX EDS Boards Detector Scope PARTS FEI XL 30 SEM Scanning Electron Microscope EDAX EDS Boards Detector ScopeНа запчасти или не рабочий167 580.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 167 580.00 ₴ доставка на склад (США) Jeol JXA-733 Electron Probe X-Ray Microanalyzer, used, parts only Jeol JXA-733 Electron Probe X-Ray Microanalyzer, used, parts onlyНа запчасти или не рабочий1 197 000.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 1 197 000.00 ₴ доставка на склад (США) Jeol JSM-35CF Scanning Microscope Console, used, parts only Jeol JSM-35CF Scanning Microscope Console, used, parts onlyНа запчасти или не рабочий239 400.00 ₴Купить сразуТовар находится: США доставка на склад (США) 239 400.00 ₴ доставка на склад (США)
123
6pm.comforever21.comcarters.comshoebacca.comzaful.comnike.com/gbdiscogs.comshein.compuma.comshopstyle.comunderarmour.comtoysrus.comusa.tommycalvinklein.us/enfullbeauty.comconverse.combhphotovideo.comoldnavy.gap.comstore.nike.com/ushollisterco.comadidas.com/ushm.comvincerowatches.comsephora.commangooutlet.comzara.commacys.comyves-rocher.deparfumdreams.demaccosmetics.comeastbay.comvictoriassecret.comtimberland.comnewegg.commichaelkors.comtarget.comhugoboss.comuniqlo.comcolumbia.comEcoFlowBLUETTI
Все магазины
Нагрев и охлаждениеОборудование для очисткиЛабораторные рекодеры и плоттерыДругое лабораторное оборудование

Написать нам

Напомнить пароль

Укажите ваш телефон или электронную почту и мы вышлем вам временный пароль пo e-mail или SMS.

Товар добавлен в корзину

Корзина пуста

Продолжить покупки
Перейти в корзину