Обробка кремнієвих пластин - SDI з Америки

1 результат
Відображати
sdi
вибрано 1
Cкинути фільтр
Semiconductor Diagnostics SDI 210, 210E-SPV, FAST, Wafer Measurement, 423274 Semiconductor Diagnostics SDI 210, 210E-SPV, FAST, Wafer Measurement, 423274Вживаний1 560 000.00 ₴Купити відразуТовар знаходиться: США доставка на склад (США) 1 560 000.00 ₴ доставка на склад (США)

Товар доданий в кошик

Кошик порожній

Продовжити покупки
Перейти в кошик